据“中央社”6月11日报道，日本测试设备大企业爱德万测试(Advantest)开发出应用在电分析的短脉冲太赫兹波技术，预定2016年3月底推出相关产品。
爱德万表示，相关技术主要用于分析次太赫兹波段(100GHz到1THz)元件的传输特性，也将侦测芯片电故障特征与。
据报道，智能手机与各类行动装置日渐普及，无线通讯流量暴增，目前频率范围内所能负荷的容量，大桥未久atad已不够使用，因此较高频率范围、尚未用于无线通讯的次太赫兹波段，逐渐成为全球研发的重点。
爱德万测试表示，在开发高频元件过程中，量测系统整体频率特性相当重要，其中会涉及输出讯号振幅和相位的反射与传输特性的量测。
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